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产品名称:x射线荧光镀层测厚仪

产品型号:X-RAY XDLM237

产品报价:

产品特点:x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款应用广泛的能量色散型x射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的Z合适的测量仪器。

X-RAY XDLM237x射线荧光镀层测厚仪的详细资料:

x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也称为X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动或自动方式,测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。

x射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的应用领域有:

1,测量大规模生产的电镀零部件

2,测量微小区域上的薄镀层

3,测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

4,全自动测量,如测量印刷线路板

德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237设计为界面友好的台式测量仪器系列,配备了马达驱动的X/Y工作台,当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程Z轴升降系统。

高分辨率的彩色视频摄像头可方便定位测量位置。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。

测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的调整。

所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM?软件在电脑上完成。

XDLM237型镀层测厚及材料分析仪完全满足DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准,型式许可符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法规规定。

为每次测量创造理想的激发条件,仪器配备可电动调整的多个准直器和基本滤片。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。

FISCHERSCOPE?-X-RAY XDLM237系统有着出色的性和良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,节省时间和精力。

由于采用了基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。


德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237参数规格:

通用规格

设计用途

能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构, 分析合金和微量组分。

元素范围

从元素 (17) (92) 配有可选的WinFTM? BASIC软件时,zui多可同时测定24种元素

形式设计

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

从上到下


X射线源

X射线管

带铍窗口的微聚焦钨管

高压

三档: 30 kV,40 kV50 kV

孔径(准直器)

标准(523-440

可选(523-366

可选(524-061

4个可切换准直器

[mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

基本滤片

3种可切换的基本滤片(标准配置:镍,铝,无)

测量点

取决于测量距离及使用的准直器大小, 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 zui小的测量点大小: 光圈约? 0。1 mm(选用准直器0。05x0。05 mm时)



X射线探测

X射线接收器

测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保护的DCM测量距离补偿法


视频系统

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦,对被测位置进行监控 十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸) 可调节亮度的LED照明,激光光点用于定位样品

放大倍数

40x - 160x

电气参数

电源要求

交流 220 V 50 Hz

功率

zui大 120 W (不包括计算机)

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸

xx[mm]570 x 760 x 650

内部测量室尺寸

重量

xx[mm]460 x 495 x 146

120kg


工作台

设计

马达驱动可编程X/Y平台

zui大移动范围                    255 × 235 mm

X/Y平台移动速度                 80 mm/s

X/Y平台移动重复精度             0.01 mm, 单向

可用样品放置区域                300 × 350 mm

Z                            可编程运行

Z轴移动范围                    140 mm

样品zui大重量                    5 kg,降低精度可达20kg

样品zui大高度                    140 mm

环境要求

使用时温度

10°C – 40°C

存储或运输温度

0°C – 50°C

空气相对湿度

95 %, 无结露

计算单元

计算机

带扩展卡的计算机系统

软件

标准: WinFTM? V.6 LIGHT 可选: WinFTM? V。6 BASICPDM?SUPER

执行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式批准

安全而保护全面的测量仪器, 型式许可符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法规规定。

订货号

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

604-347





如有特殊要求,可与FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型号。


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